X射线厚度/面密度仪
采用高精度X射线透射技术，实现对金属箔、薄膜、极片等材料的非接触式在线厚度和面密度同步测量，典型精度可达±0.1μm / ±0.1g/m²，支持全幅面扫描与MES系统无缝对接。
X射线检测系列
X射线厚度/面密度仪
采用高精度X射线透射技术，实现对金属箔、薄膜、极片等材料的非接触式在线厚度和面密度同步测量，典型精度可达±0.1μm / ±0.1g/m²，支持全幅面扫描与MES系统无缝对接。
核心特点
非接触式无损测量
厚度与面密度同步检测
±0.1μm / ±0.1g/m² 高精度
全幅面O型/C型扫描架
自动校准与标定功能
支持MES/PLC闭环控制
实时数据统计与SPC分析
多种报警输出方式
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